X線

設置場所:実験棟210

オペランド多目的X線回折

メーカーPanalytical
型式Empyrean
導入年度令和元年度

試料にX線を照射し、回折・反射・散乱されたX線を観測することで、化合物の同定・定量・配向性、薄膜の膜厚・粗さ、粒径・空孔径分布などの情報が得られる。本装置では、各種ミラー・ステージ・オプションにより、様々な測定に対応可能である。                            ※初めて申請される方は、事前に担当者までお問い合わせ下さい。

主な仕様
X-rayCu:45 kV、40 mA
Mo:60kV、40mA
OpticsCu:BBHD、Focusing Mirror、Hybrid Monochro2xGe(220)、Lens
Mo:Focusing Mirror、Hybrid Monochro2xGe(220)
DetectorProp(0D)、GaliPIX3D(1D,2D)、PIXcel3D 2x2(0D,1D,2D)
StageRef/Trans Spinner、3-axes(Chi-Phi-Z) Cradle +X-Y translation、Capillary Spinner
OptionDCS500(-180~500 ℃)[ref]、HTK1200N(RT~1200 ℃)[ref,trans]、ScatterX78[trans]
SoftwareData Collector、HighScorePlus、XRD 2D Scan、AMSS、EasySAXS、PDF Databases(PDF-4+)
支援形態/料金
大学官公庁
協力研究無料成果公開
施設利用
技術代行なし
民間
施設利用 31,000円/日
技術代行なし
所内施設利用無料
民間施設利用62,000円/日成果非公開
技術代行なし
■ 利用するには、放射線業務従事者登録が必要となります。

■担当

横山利彦センター長
竹入史隆助教[ f-takeiri@ims.ac.jp ]
藤原基靖主任技術員[ fujiwara@ims.ac.jp ]
宮島瑞樹技術員
0564-55-7476(藤原)