機能性分子システム創製

磁性薄膜作製評価

超高真空中で磁性薄膜等を作成し、in situ磁気光学Kerr効果による評価、ならびに、紫外レーザー磁気円二色性光電子顕微鏡(UV MCD PEEM)によるナノ磁気構造評価を行う。

主な仕様
超高真空下での磁性薄膜作成・磁気光学Kerr効果によるその場観察評価。紫外レーザー磁気円二色性光電子顕微鏡も利用可
支援形態/料金
大学官公庁
協力研究無料成果公開
施設利用なし
技術代行
民間
施設利用 要相談
技術代行
所内施設利用なし
民間施設利用要相談成果非公開
技術代行

■担当

横山利彦教授[ yokoyama@ims.ac.jp ]
山本航平助教
0564-55-7345(横山)