静電半球型アナライザーを用いた機能性材料の価電子バンド構造測定システム。ディフレクターを使用することで2次元波数空間マッピングを行うことが可能。薄膜作製用真空チェンバー、試料表面処理チェンバー（電子衝撃加熱、通電加熱、Ar+スパッタが可能）、電子線回折装置、劈開機構を利用することができるため、 様々な機能性材料の測定に対応。