X線

設置場所:山手3号館1階 X線回折測定室

粉末X線回折

メーカーRigaku
型式RINT-UltimaIII
導入年度平成17年度

粉末試料にX 線を照射し、回折されたX 線の角度および強度を測定する。主な利用法は定性分析(同定)である。既知試料の回折パターン(PDF:Powder Diffraction File)と照合することで測定試料の同定を行う。その他にも、ピークの有無や強度による結晶性や配向評価、ピーク幅による結晶子サイズ評価、小角領域の測定による粒子径の評価などにも用いられる。また測定精度によっては未知構造解析も可能である。

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主な仕様
X-rayCu(40 kV、40 mA)
OpticsParallel Beam
Bragg-Brentano
Small Angle X-ray Scattering
DetectorScintillation Counter
OptionMonochromator
Hi-res PSA
Rotation stage
Capillary stage
SAXS stage
Low temperature stage(40〜300 K)
SoftwarePDXL
Nano-Solver
支援形態/料金
大学官公庁
協力研究なし成果公開
施設利用無料
技術代行なし
民間
施設利用 2,900円/時間
技術代行なし
所内施設利用無料
民間施設利用5,700円/時間成果非公開
技術代行なし
 ■ 利用するには、放射線業務従事者登録が必要となります。

■担当

横山利彦センター長
藤原基靖主任技術員[ fujiwara@ims.ac.jp ]
宮島瑞樹技術員
0564-55-7476(藤原)