走査プローブ顕微鏡

設置場所:実験棟106-108

走査プローブ顕微鏡

メーカーBruker

Bruker Dimension XR Icon NanoElectrical  (写真右上)
形状測定、機械特性測定、電気特性測定、ケルビンプローブ測定に特化した走査プローブ顕微鏡を用いた共同研究を行います。 

Bruker Dimension XR Icon NanoElectochemical (写真右下)
電気化学測定に特化した走査プローブ顕微鏡を用いた共同研究を行います。

Bruker Dimension XR Icon NanoElectrical
Bruker Dimension XR Icon NanoElectochemical
主な仕様
①NanoElectrical
型式Bruker Dimension XR Icon NanoElectrical
導入年度令和元年度
走査範囲XY:> 85 µm, Z:> 9 µm
ノイズフロア0.035 nm以下
試料サイズ 最大直径200 mm, 厚さ15 mm
自動ステージ駆動範囲:180 x 150 mm 繰返し精度:3 µm
高解像CCDカメラ5メガピクセル (デジタルズーム)
測定モード 形状測定、機械特性測定(位相モード、水平力顕微鏡モード、フォースカーブモード、ピークフォースマッピングモード等)、電気特性測定、ケルビンプローブ測定、光照射、磁場印加
space
②NanoElectochemical
型式Bruker Dimension XR Icon NanoElectochemical
導入年度令和元年度
走査範囲XY:> 85 µm, Z:> 9 µm
ノイズフロア0.035 nm以下
試料サイズ最大直径200 mm, 厚さ15 mm
自動ステージ 駆動範囲:180 x 150 mm 繰返し精度:3 µm
高解像CCDカメラ5メガピクセル (デジタルズーム)
測定モード形状測定、機械特性測定(位相モード、水平力顕微鏡モード、フォースカーブモード、ピークフォースマッピングモード等)、電気化学原子間力顕微鏡動作、走査型電気化学顕微鏡動作
付属装置密閉型大気非曝露測定用ボックス
支援形態/料金
大学官公庁
協力研究無料成果公開
施設利用なし
技術代行
民間
施設利用 要相談
技術代行
所内施設利用無料(協力研究として)
民間施設利用要相談成果非公開
技術代行

■担当

横山利彦センター長
湊丈俊主任研究員[ minato@ims.ac.jp ]
上田正主任技術員
杉本敏樹准教授
0564-55-7330(湊)