マイクロストラクチャー
設置場所:装置開発室
3次元光学プロファイラーシステム (Nexview)
(設備ID:MS-102)
3次元光学プロファイラーシステム(ZYGO Nexview)は、非接触で表面の3次元形状測定、表面粗さ測定を行う装置です。つなぎ合わせ機能により□46.5㎜範囲の3次元形状測定や、Ra0.1nm以下の超精密研磨面の測定、透明膜の厚さ測定(1μm以上)などができます。
主な仕様 | |
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X-Yステージ可動範囲:200㎜×200㎜ Z軸可動範囲:100㎜ |
支援形態/料金 | |||
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大学官公庁 | 協力研究 | なし | 成果公開 |
施設利用 | 無料 | ||
技術代行 | なし | ||
民間 | 施設利用 | 4,400円/時間 | |
技術代行 | なし | ||
所内 | 施設利用 | 消耗品実費 | |
民間 | 施設利用 | 8,700円/時間 | 成果非公開 |
技術代行 | なし | ||
技術支援 | 技術開発 | 13,200円/時間 | 成果非公開 (成果公開の場合は 料金が1/2) |
設計製作 | 10,800円/時間 | ||
技術補助 | 5,600円/時間 |
■担当
山本浩史室長
近藤聖彦主任技師[ kondou@ims.ac.jp ]
木村幸代技術員
0564-55-7213(菊地、近藤)
代表[ micro@ims.ac.jp ]
近藤聖彦主任技師[ kondou@ims.ac.jp ]
木村幸代技術員
0564-55-7213(菊地、近藤)
代表[ micro@ims.ac.jp ]