走査プローブ顕微鏡

設置場所:実験棟106-108

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走査プローブ顕微鏡

メーカー Bruker

[ Bruker Dimension XR Icon NanoElectrical ] 形状測定、機械特性測定、電気特性測定、ケルビンプローブ測定に特化した走査プローブ顕微鏡を用いた共同研究を行います。                              [ Bruker Dimension XR Icon NanoElectochemical ] 電気化学測定に特化した走査プローブ顕微鏡を用いた共同研究を行います。

主な仕様

①NanoElectrical
型式 Bruker Dimension XR Icon NanoElectrical
導入年度 令和元年度
走査範囲 XY:> 85 µm, Z:> 9 µm
ノイズフロア 0.035 nm以下
試料サイズ 最大直径200 mm, 厚さ15 mm
自動ステージ 駆動範囲:180 x 150 mm 繰返し精度:3 µm
高解像CCDカメラ 5メガピクセル (デジタルズーム)
測定モード 形状測定、機械特性測定(位相モード、水平力顕微鏡モード、フォースカーブモード、ピークフォースマッピングモード等)、電気特性測定、ケルビンプローブ測定、光照射、磁場印加
付属装置 密閉型大気非曝露測定用ボックス
②NanoElectochemical
型式 Bruker Dimension XR Icon NanoElectochemical
導入年度 令和元年度
走査範囲 XY:> 85 µm, Z:> 9 µm
ノイズフロア 0.035 nm以下
試料サイズ 最大直径200 mm, 厚さ15 mm
自動ステージ 駆動範囲:180 x 150 mm 繰返し精度:3 µm
高解像CCDカメラ 5メガピクセル (デジタルズーム)
測定モード 形状測定、機械特性測定(位相モード、水平力顕微鏡モード、フォースカーブモード、ピークフォースマッピングモード等)、電気化学原子間力顕微鏡動作、走査型電気化学顕微鏡動作
付属装置 密閉型大気非曝露測定用ボックス

支援形態/料金

大学官公庁 協力研究 無料 成果公開
施設利用
技術代行
民間 施設利用 要相談
技術代行 要相談
所内 施設利用 無料(協力研究として)
民間 施設利用 要相談 成果非公開
技術代行 要相談
技術支援 なし

■担当

横山利彦センター長
湊丈俊主任研究員[ minato@ims.ac.jp ]
上田正技術員
杉本敏樹准教授
0564-55-7330(湊)