X線

設置場所:山手3号館1階X線回折測定室

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粉末X線回折

メーカー Rigaku
型式 RINT-UltimaIII
導入年度 平成17年度

粉末試料にX 線を照射し、回折されたX 線の角度および強度を測定する。主な利用法は定性分析(同定)である。既知試料の回折パターン(PDF:Powder Diffraction File)と照合することで測定試料の同定を行う。その他にも、ピークの有無や強度による結晶性や配向評価、ピーク幅による結晶子サイズ評価、小角領域の測定による粒子径の評価などにも用いられる。また測定精度によっては未知構造解析も可能である。

主な仕様

X-ray Cu(40 kV、40 mA)
Optics Parallel Beam
Bragg-Brentano
Small Angle X-ray Scattering
Detector Scintillation Counter
Option Monochromator
Hi-res PSA
Rotation stage
Capillary stage
SAXS stage
Low temperature stage(40〜300 K)
Software PDXL
Nano-Solver
■利用するには、放射線業務従事者登録が必要です。

支援形態/料金

大学官公庁 協力研究 成果公開
施設利用 無料
技術代行
民間 施設利用 2900円/時間
技術代行
所内 施設利用 無料
民間 施設利用 5700円/時間 成果非公開
技術代行

■担当

横山利彦センター長
藤原基靖主任技術員[ fujiwara@ims.ac.jp ]
宮島瑞樹技術員
0564-55-7476(藤原)