X線

設置場所:実験棟210

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オペランド多目的X線回折

メーカー Panalytical
型式 Empyrean
導入年度 令和元年度

試料にX線を照射し、回折・反射・散乱されたX線を観測することで、化合物の同定・定量・配向性、薄膜の膜厚・粗さ、粒径・空孔径分布などの情報が得られる。本装置では、各種ミラー・ステージ・オプションにより、様々な測定に対応可能である。                            ※初めて申請される方は、事前に担当者までお問い合わせ下さい。

主な仕様

X-ray Cu:45 kV、40 mA
Mo:60kV、40mA
Optics Cu:BBHD、Focusing Mirror、Hybrid Monochro2xGe(220)、Lens
Mo:Focusing Mirror、Hybrid Monochro2xGe(220)
Detector Prop(0D)、GaliPIX3D(1D,2D)、PIXcel3D 2x2(0D,1D,2D)
Stage Ref/Trans Spinner、3-axes(Chi-Phi-Z) Cradle +X-Y translation、Capillary Spinner
Option DCS500(-180~500 ℃)[ref]、HTK1200N(RT~1200 ℃)[ref,trans]、ScatterX78[trans]
Software Data Collector、HighScorePlus、XRD 2D Scan、AMSS、EasySAXS、PDF Databases(PDF-4+)
■利用するには、放射線業務従事者登録が必要です。

支援形態/料金

大学官公庁 協力研究 無料 成果公開
施設利用 無料
技術代行
民間 施設利用 31000円/日
技術代行
所内 施設利用 無料
民間 施設利用 62000円/日 成果非公開
技術代行
技術支援 なし

■担当

横山利彦センター長
小林玄器准教授 [ gkobayashi@ims.ac.jp ]
竹入史隆助教
藤原基靖技術員 [ fujiwara@ims.ac.jp ]
宮島瑞樹技術員
0564-55-7476(藤原)